1. Advanced electron microscopy and nanomaterials
پدیدآورنده: / Arturo Ponce and Dario Bueno
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Electron microscopy,Nanostructured materials
رده :
TA
418
.
9
.
N35A3275
2010
2. Advanced electron microscopy and nanomaterials: selected, peer reviewed papers from the First Joint Advanced Electron Microscopy School for Nanomaterials and the Workshop on Nanomaterials )AEM-NANOMAT '09(, Saltillo )Coahuila( Me۱جxico, September 29th-October 2nd, 2009
پدیدآورنده: edited by: Arturo Ponce and Dario Bueno
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Congresses ، Electron microscopy,Congresses ، Nanostructured materials
رده :
TA
418
.
9
.
N35
A3275
2010
3. Advanced transmission electron microscopy
پدیدآورنده: / Jian Min Zuo, John C.H. Spence
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع: Transmission electron microscopy.,Materials science.,Nanochemistry.,Solid state physics.,Nanoscience.,Nanostructures.,Nanotechnology.
رده :
TA404
.
6
.
Z88
2017
4. Advanced transmission electron microscopy
پدیدآورنده: / Francis Leonard Deepak, Alvaro Mayoral, Raul Arenal, editors
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع: Transmission electron microscopy.,Nanostructured materials--Nondestructive testing
رده :
QH212
.
T7A39
2015
5. Analytical electron microscopy for materials science
پدیدآورنده: Shindo D. )Daisuke(
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: ، Materials-- Microscopy,، Electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
S5513
2002
6. Atlas of backscattering Kikuchi diffraction patterns
پدیدآورنده: / D.J. Dingley, K.Z. Baba-Kishi, V. Randle
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Materials--Microscopy,Scanning electron microscopy.,Diffraction patterns.,Crystallography.
رده :
TA
,
417
.
23
,.
D56
,
1995
7. Atlas of backscattering Kikuchi diffraction patterns
پدیدآورنده: Dingley, David J.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع: Materials - Microscopy , Scanning electron microscopy , Diffraction patterns , Crystallography
رده :
TA
417
.
23
.
D56
8. Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM)
پدیدآورنده: / Yonghua Rong
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد و انتشارات دانشگاه تبریز (آذربایجان شرقی)
موضوع: Nanostructured materials - Nondestructive testing,Electron microscopy
رده :
TA417
.
23
.
R66
2012
9. Electron Microscopy and Multiscale Modeling: Proceedings of The EMMM-2007 International Conference
پدیدآورنده:
کتابخانه: كتابخانه دانشگاه آزاد اسلامی واحد قم (قم)
موضوع: Materials- Microscopy- Congresses,Electron microscopy- Congresses
رده :
TA
.
E426
417
.
23
2007
10. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده : edited by Adam J. Schwartz, Mukul Kumar, and Brent L. Adams
موضوع : ، Materials, Microscopy,، Scanning electron microscopy,، Crystallography
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
11. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده:
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه اراک (مرکزی)
موضوع: Materials -- Microscopy,Electrons -- Backscattering,Electrons -- Diffraction,Scanning electron microscopy
رده :
620
.
11299
E38
12. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده: / Adam J. Schwartz ... [et al.], eds
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Materials -- Microscopy,Scanning electron microscopy,Crystallography,Elektronenbeugung,Kristallographie.,Rèuckstreuung.
رده :
TA
417
.
23
.
E419
2009
13. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده:
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Materials ; Microscopy. ; Scanning electron microscopy. ; Crystallography. ; Elektronenbeugung. ; swd. ; Kristallographie. ; swd. ; R?ckstreuung. ; swd. ;
14. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده:
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع: Materials- Microscopy,Scanning electron microscopy,Crystallography
رده :
TA417
.
23
.
E419
2000
15. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده: / Adam J. Schwartz ... [et al.], eds
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Materials--Microscopy,Scanning electron microscopy.,Crystallography.,Elektronenbeugung.--swd,Kristallographie.--swd,Reuckstreuung.--swd
رده :
TA
,
417
.
23
,.
E419
,
2009
16. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده: Loretto, M. H.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع: Materials - Analysis , Electron beams - Industrial applications , Electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
L67
1994
17. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده: Loretto, M. H.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)
موضوع: Analysis ، Materials,Industrial applications ، Electron beams,، Electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
L67
1994
18. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده: / M.H. Loretto
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع: Materials- Analysis,Electron beams- Industrial applictions,Electron microscopy
رده :
TA417
.
23
.
L67
1994
19. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده: Loretto, M. H.
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع: ، Materials- Analysis,، Electron beams- Industrial applications,، Electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
L67
1994
20. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده: / M.H. Loretto
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Materials- Analysis,Electron beams- Industrial applications,Electron microscopy
رده :
TA417
.
23
.
L67
1994
